芯片测试中 IO管脚接触测试
<p>芯片中的 <strong>IO管脚接触测试</strong>（IO Pin Contact Test），是芯片测试流程（ATE：Automatic Test Equipment 流程）中非常关键的早期测试环节，主要用于判断芯片引脚是否正确接触探针/测试座，以避免由于接触不良导致后续测试误判。</p><h2 id="1io管脚接触测试的目的">1.IO管脚接触测试的目的</h2>
<ul>
<li>确认每个 IO 脚是否与测试机/探针卡接触良好</li>
<li>避免误判芯片功能异常其实是接触不良</li>
<li>在功能测试前筛掉接触失败的芯片</li>
</ul>
<h2 id="2测试原理与流程">2.测试原理与流程</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624163548521-1842581946.png"></p>
<h2 id="3常用测试方法">3.常用测试方法</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624163731187-2085241674.png"></p>
<h2 id="4所需设备基于-ni-pxi-系统">4.所需设备（基于 NI PXI 系统）</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624163815144-88281779.png"></p>
<h2 id="5接触良好-vs-接触不良-的测试结果示例">5.接触良好 vs 接触不良 的测试结果示例</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624163953261-1739439414.png"></p>
<h2 id="6总结">6.总结</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624164041663-1274416629.png"></p>
<p>以上就是IO管脚接触测试的简单介绍</p>
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来源：https://www.cnblogs.com/chenshibao/p/18946473
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