芯片测试中的电源管脚接触测试
<p>电源管脚接触测试（Power Pin Contact Test）是芯片量产/测试流程中用于确认芯片电源引脚（如 VDD、VSS、AVDD、DVDD 等）是否与测试治具或探针台良好接触的关键测试环节。</p><h2 id="1为什么要做电源管脚接触测试">1.为什么要做电源管脚接触测试？</h2>
<p>电源管脚如果接触不良，可能导致：</p>
<ul>
<li>芯片无法正常上电，所有后续测试失效</li>
<li>功耗异常、读写失败等误判</li>
<li>烧坏芯片或探针卡</li>
</ul>
<p>🔧 所以在 功能测试前必须验证电源管脚接触良好。</p>
<h2 id="2电源管脚接触测试的基本原理">2.电源管脚接触测试的基本原理</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624170852927-1299456549.png"></p>
<h2 id="3常见测试流程以-pxi-系统--smu-为例">3.常见测试流程（以 PXI 系统 + SMU 为例）</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624170931221-983178999.png"></p>
<h2 id="4电源接触良好不良典型表现">4.电源接触良好/不良典型表现</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624171020898-239445777.png"></p>
<h2 id="5接触测试波形示意简化">5.接触测试波形示意（简化）</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624171116064-1294352248.png"></p>
<h2 id="6适用-ni-设备">6.适用 NI 设备</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624171231251-1452477680.png"></p>
<h2 id="7注意事项">7.注意事项</h2>
<ul>
<li>
<p>电源脚连接应<strong>逐一检查</strong>，特别是模拟电源、数字电源、参考电源（如 AVDD、DVDD、VREF）</p>
</li>
<li>
<p>设置合理的<strong>限流值</strong>，避免芯片损坏</p>
</li>
<li>
<p>若有多个电源轨，需<strong>独立测试每一个电源引脚</strong></p>
</li>
</ul>
<h2 id="8总结">8.总结</h2>
<p><img src="https://img2024.cnblogs.com/blog/2212230/202506/2212230-20250624171444481-940653486.png"></p>
<p>以上就是电源管脚测试的简单介绍。</p>
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来源：https://www.cnblogs.com/chenshibao/p/18946545
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