芯片测试中的电源管脚接触测试

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电源管脚接触测试（Power Pin Contact Test）是芯片量产/测试流程中用于确认芯片电源引脚（如 VDD、VSS、AVDD、DVDD 等）是否与测试治具或探针台良好接触的关键测试环节。

1.为什么要做电源管脚接触测试？

电源管脚如果接触不良，可能导致：

• 芯片无法正常上电，所有后续测试失效
• 功耗异常、读写失败等误判
• 烧坏芯片或探针卡

🔧 所以在 功能测试前必须验证电源管脚接触良好。

2.电源管脚接触测试的基本原理

3.常见测试流程（以 PXI 系统 + SMU 为例）

4.电源接触良好/不良典型表现

5.接触测试波形示意（简化）

6.适用 NI 设备

7.注意事项

• 电源脚连接应逐一检查，特别是模拟电源、数字电源、参考电源（如 AVDD、DVDD、VREF）

• 设置合理的限流值，避免芯片损坏

• 若有多个电源轨，需独立测试每一个电源引脚

8.总结

以上就是电源管脚测试的简单介绍。

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来源：https://www.cnblogs.com/chenshibao/p/18946545